植物冠層分析儀測(cè)量常見難題解析
1.植物冠層分析儀的直接測(cè)量法和間接測(cè)量法優(yōu)缺點(diǎn)
直接測(cè)量法通過(guò)先測(cè)定所有葉片的葉面積,再計(jì)算LAI,因要剪下全部待測(cè)葉片,多數(shù)屬于毀壞性測(cè)量,或至少會(huì)干擾冠層,葉片角度的分布,從而影響數(shù)據(jù)的質(zhì)量,直接測(cè)量費(fèi)時(shí)、費(fèi)力。
間接測(cè)量法是利用冠層結(jié)構(gòu)與冠層內(nèi)輻射與環(huán)境的相互作用這一定量耦合關(guān)系,通過(guò)植被冠層的輻射轉(zhuǎn)移模型來(lái)推斷LAI,可以避免直接測(cè)量法所造成的大規(guī)模破壞植被的缺點(diǎn),不受時(shí)間的限制,獲取數(shù)據(jù)量大,儀器容易操作,方便快捷,還可以測(cè)定一年中森林冠層LAI的季節(jié)變化。
2.植物冠層分析儀測(cè)量LAI的原理及理想光照條件
當(dāng)光線透過(guò)植物冠層時(shí),由于受到葉片和枝干的阻攔,輻射強(qiáng)度會(huì)迅速消減,根據(jù)其消減程度就可推算出植物的葉量。冠層分析儀便是依據(jù)此原理,通過(guò)測(cè)量植被冠層以上(A)和植被冠層以下(B)5個(gè)角度的透射光線,利用植被樹冠的輻射轉(zhuǎn)移模型計(jì)算LAI。理想的光照條件是均勻的陰天或者散射光照下,易找到合適的測(cè)量時(shí)間往往是黎明之前和日落之后的瞬間。作為一般原則,如果可以看到地上的影子或者林冠上有陽(yáng)光照射的葉子,這時(shí)的天空的光照條件就沒(méi)有滿足。
3.植物冠層分析儀的不同測(cè)量模式
單傳感器模式:適合測(cè)量可將傳感器置于冠層之上的低矮植被類型,如低矮灌木、農(nóng)作物和草本植物,但也可以用于高大森林植被類型的測(cè)定;
雙傳感器模式:用于森林測(cè)量或作物測(cè)量,其中一個(gè)傳感器固定在冠層上部,需要增加長(zhǎng)的擴(kuò)展線;
遙測(cè)模式:主要用于缺少空地的森林。
4.測(cè)量喬木林下的灌木層的LAI
先測(cè)定喬木層的LAI,然后測(cè)定灌木層和喬木層的LAI,兩者之差即為灌木層的LAI。