泛勝便攜式植物冠層分析儀用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）的測量、記錄，測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（μmols㎡/秒）。

FS-2000植物冠層圖像分析儀可測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數(shù)，葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等，可用于農(nóng)作物、果樹、森林內(nèi)冠層受光狀況的測量和分析。

FS-PAR植物冠層分析儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米?秒上的微摩爾（μmols㎡/秒）。

FS-PAR作物植物冠層分析儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米?秒上的微摩爾（μmols㎡/秒）。

FS-2000玉米冠層圖像分析儀用于各種高度植物冠層的研究，利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像，通過分析軟件，獲得植物冠層的相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。

FS-PAR植物冠層測量儀用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量、記錄，測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（μmols㎡/秒）。

FS-PAR小麥冠層分析儀用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）的測量、記錄，測量值的單位是平方米?秒上的微摩爾（μmols㎡/秒）。

葉面積指數(shù)儀冠層分析儀利用魚眼鏡頭成像測量植物冠層數(shù)據(jù)，只操作一次即可，簡化了傳統(tǒng)測量方法要一天定點(diǎn)多次測量的繁復(fù)工作，而且利用圖像法測量冠層可以主動(dòng)避開不符合計(jì)算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層空隙部分，也可以躲開不符合測量計(jì)算的障礙物。

FS-PAR作物植物冠層測量儀用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）的測量、記錄，測量值的單位是平方米?秒上的微摩爾（μmols㎡/秒）。

FS-2000植物冠層分析儀用于各種高度植物冠層的研究，利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像，通過分析軟件，獲得植物冠層的相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。

FS-PAR手持式植物冠層分析儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（μmols㎡/秒）。

FS-2000便攜式圖像冠層分析儀葉面積指數(shù)儀用于各種高度植物冠層的研究，利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像，通過分析軟件，獲得植物冠層的相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。利用魚眼鏡頭成像測量植物冠層數(shù)據(jù)，只操作一次即可，簡化了傳統(tǒng)測量方法要一天定點(diǎn)多次測量的繁復(fù)工作，而且利用圖像法測量冠層可以主動(dòng)避開不符合計(jì)算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層空隙部分，也可以躲開不符合測量計(jì)算的障礙物。

FS-PAR作物冠層分析儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米?秒上的微摩爾（μmols㎡/秒）。

FS-2000植物冠層圖像分析儀用于各種高度植物冠層的研究，利用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器獲取植物冠層圖像，通過分析軟件，獲得植物冠層的相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。利用魚眼鏡頭成像測量植物冠層數(shù)據(jù)，只操作一次即可，簡化了傳統(tǒng)測量方法要一天定點(diǎn)多次測量的繁復(fù)工作，而且利用圖像法測量冠層可以主動(dòng)避開不符合計(jì)算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層空隙部分，也可以躲開不符合測量計(jì)算的障礙物。